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霍爾效應(yīng)測試儀

簡要描述：v系統(tǒng)功能：用于測量半導(dǎo)體材料的電阻率/電導(dǎo)率、流動性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數(shù)、磁阻、垂直/水平阻力比的半導(dǎo)體高性能霍爾系統(tǒng)

基礎(chǔ)信息

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更新時(shí)間

2024-10-22

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詳細(xì)介紹

v 系統(tǒng)功能：用于測量半導(dǎo)體材料的電阻率/電導(dǎo)率、流動性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數(shù)、磁阻、垂直/水平阻力比的半導(dǎo)體高性能霍爾系統(tǒng)。模塊化設(shè)計(jì)理念，允許輕松升級，該系統(tǒng)適用于各種材料，包括硅和化合物半導(dǎo)體和金屬氧化物膜等

v 該系統(tǒng)具有低電阻率和高電阻率測量功能，具有雙重溫度功能和一個(gè)可選的低溫恒溫器，可擴(kuò)展該系統(tǒng)溫度范圍從90K到500K

v 方塊電阻量程：10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq

v 載流子濃度量程：106 ~ 1021 cm-3

v 載流子遷移率量程：1 ~ 107 cm

v 四個(gè)微調(diào)探針座，探針直接形成ohm接觸，無需焊線或制作PCB板

v 樣品測量直徑：25mm


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