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Prisma E SEM用于材料科學的掃描電子顯微鏡

簡要描述：新的Prisma環(huán)境掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合了廣泛的成像和分析模式與全新的的自動化，以提供在同類儀器中的最完整的解決方案

基礎信息

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更新時間

2024-10-25

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新的Prisma環(huán)境掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合了廣泛的成像和分析模式與全新的的自動化，以提供在同類儀器中的最完整的解決方案。它是理想的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應用，提供高分辨率，樣品的靈活性和易于使用的操作界面。Prisma E SEM成功地超越了的Quanta SEM掃描電鏡。
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