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掃描電鏡SEM

簡要描述：vFE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學、材料等領(lǐng)域v電子槍種類：冷場發(fā)射v二次電子圖象分辨率：0.6nm@15kV

基礎(chǔ)信息

產(chǎn)品型號

廠商性質(zhì)

代理商

更新時間

2024-10-22

瀏覽次數(shù)

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詳細介紹

v FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學、材料等領(lǐng)域

v 電子槍種類：冷場發(fā)射

v 二次電子圖象分辨率：0.6 nm@15kV；0.7nm@1kV

v 放大倍數(shù)：20-2,000,000x

v 加速電壓：0.5-30kV


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